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SXJS-IV型智能化介質(zhì)損耗測試儀技術(shù)指標(biāo)

點擊次數(shù):454 更新時間:2023-11-24

SXJS-IV型智能化介質(zhì)損耗測試儀技術(shù)指標(biāo)

 

一、概說

SXJS-IV型系列智能化介質(zhì)損耗測試儀是一種的測量介質(zhì)損耗(tgδ)和電容容量(Cx)的儀器,用于工頻高壓下,測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗(tgδ)和電容容量(Cx)。它淘汰了QSI高壓電橋,具有操作簡單、中文顯示、打印,使用方便、無需換算、自帶高壓,抗*力強等優(yōu)點。SXJS-IV體積小、重量輕,是我廠的第三代智能化介質(zhì)損耗測試儀。

 

二、技術(shù)指標(biāo)

1、環(huán)境溫度:0~40℃(液晶屏應(yīng)避免長時日照)

2、相對濕度:30%~70%

3、供電電源:電壓:220V±10%,頻率50±1Hz

4、外形尺寸:長×寬×高=4900mm×300mm×390mm

5、重量:約18kg

6、輸出功率:1KVA

7、顯示分辨率:4位

8、測量范圍:

介質(zhì)損耗(tgδ):0-50%

電容容量(Cx)和加載電壓:

2.5KV檔:≤300nF(300000pF)

3KV檔:≤200nF(200000pF)

5KV檔:≤76nF(76000pF)

7.5KV檔:≤34nF(34000pF)

10KV檔:≤20nF(20000pF)

9、基本測量誤差:

介質(zhì)損耗(tgδ):1%±0.07%(加載電流20μA~500mA)正接

介質(zhì)損耗(tgδ):2%±0.09%(加載電流5μA~20mA)反接

電容容量(Cx):1.5%±1.5pF

 

三、結(jié)構(gòu)

儀器為升壓與測量一體化結(jié)構(gòu),輸出電壓2.5KV~10KV五檔可調(diào),以適應(yīng)各種需要,在測量對無需任何外部設(shè)備。接線與QSI電橋相似,但比其方便。

 

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